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| 內容簡介： |
本书主要论述了与电子系统相关的可靠性设计基础，可靠性建模、预计与分配方法，电子仪器中常用电路的故障树分析方法，故障模式影响及危害性分析方法，以及可靠性试验方法，着重对电子系统的可靠性设计方法进行了阐述。本书是作者在总结多年教学经验的基础上撰写而成的。书中强调了基本理论的系统性与工程实用性的结合，突出理论联系实际的内容，并提出了一些实际的电子系统可靠性案例。
本书可用作高等院校电子类专业本科生教材，也可供广大从事可靠性工程工作的工程技术人员和相关企业管理人员参考。
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| 目錄：
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前言
第1章可靠性设计基础
1.1概述
1.2可靠性的基本概念
1.3可靠性特征量
1.3.1可靠度与不可靠度
1.3.2失效率
1.3.3可靠度函数的一般表达式
1.3.4故障前平均工作时间
1.3.5平均故障间隔时间
1.4可靠性寿命分布
1.4.1指数分布
1.4.2威布尔分布
1.4.3正态分布和对数正态分布
1.4.4不同分布中可靠性特征量的选取原则
1.5习题
第2章可靠性模型
2.1可靠性框图
2.2模型的建立
2.3几种典型结构的可靠性模型
2.3.1串联结构
2.3.2并联结构
2.3.3KN结构
2.4三态系统的可靠性模型
2.4.1三态系统的概念
2.4.2串联结构
2.4.3并联结构
2.5习题
第3章可靠性预计与分配
3.1可靠性预计
3.1.1元器件的可靠性预计
3.1.2系统的可靠性预计
3.2可靠性分配
3.2.1指数分布的情况
3.2.2等分配法
3.2.3再分配法
3.2.4AGREE分配法
3.2.5拉格朗日乘子法
3.3可靠性分配案例
3.4习题
第4章故障模式影响及危害性分析
4.1基本术语
4.2故障模式影响分析
4.2.1故障影响分析
4.2.2电子元器件的故障模式、失效机理和故障分析
4.2.3故障检测方法分析
4.2.4补偿措施分析
4.2.5故障模式影响分析的实施
4.3危害性分析
4.3.1定性分析法
4.3.2定量分析法
4.3.3绘制危害性矩阵
4.4故障模式影响和危害性分析结果
4.4.1FMECA分析程序
4.4.2FMECA报告
4.5FMECA案例
第5章故障树分析
5.1故障树概念
5.2故障树常用事件及其符号
5.2.1故障树的事件符号
5.2.2故障树的逻辑门符号
5.3故障树的建立
5.3.1原始故障树的建造
5.3.2故障树的规范化
5.3.3故障树的简化和模块分解
5.4故障树定性分析
5.4.1求最小割集的方法
5.4.2定性评定故障树中的底事件
5.5故障树定量分析
5.5.1利用结构函数计算事件发生的概率
5.5.2求顶事件发生概率的近似值
5.5.3故障树的数学描述
5.6重要度分析
5.6.1概率重要度
5.6.2关键重要度
5.6.3结构重要度
5.7故障树分析报告的主要内容
5.8故障树分析案例
5.9习题
第6章电子系统的可靠性
6.1电子元器件的可靠性
6.2不同元器件的失效机理
6.2.1电阻
6.2.2电容
6.2.3电感
6.2.4继电器
6.2.5半导体器件
6.2.6集成电路
6.3元器件的正确使用
6.3.1分立半导体器件的使用
6.3.2固定电阻和电位器
6.3.3电容的选用
6.3.4集成芯片的选择
6.4潜在电路分析
6.4.1潜在分析类型
6.4.2网络树的构造
6.4.3潜电路设计规则
6.4.4案例研究
6.5降额设计
6.5.1降额的目的
6.5.2降额方法的使用
6.6可靠的电路设计
6.6.1设计简化
6.6.2采用标准部件和电路
6.6.3瞬态和过应力保护
6.7电路的容差分析
6.7.1产生容差问题的原因
6.7.2容差设计及分析方法
6.8热设计
6.8.1热设计的一般过程
6.8.2常用冷却方法及选择
6.8.3元器件的部件与安装
6.8.4印制电路板的热设计
6.9习题
第7章可靠性试验
7.1可靠性试验的分类
7.2环境应力筛选试验
7.3可靠性增长试验
7.3.1可靠性增长试验的方式
7.3.2可靠性增长模型
7.4可靠性鉴定试验
7.5可靠性验收试验
7.5.1可靠性验收方案的确定
7.5.2可靠性试验的数据分析与处理
7.6习题
参考文献
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| 內容試閱：
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第1章 可靠性设计基础
随着集成电路、微电子技术在各类仪器中的广泛运用，电子仪器的复杂程度越来越高，传统的仪器只能完成测量、显示功能，而现代的智能仪器往往具有智能诊断、智能学习等能力。因此，在应用系统中，电子仪器起的作用也越来越大，电子仪器能否可靠地完成其任务，也逐渐成为人们越来越关注的问题。某些电子仪器需要在特殊的条件下稳定可靠地工作，这些电子仪器需要满足特殊的要求，例如能够长时间连续工作，或者在较强的电磁场环境、较高的环境温度或较大的环境湿度下仍然能够可靠地工作。在电子仪器出现故障时，人们通常希望仪器本身可以进行诊断和做出正确的判断，以减小维修的次数和时间。
直到20世纪60年代，产品从制造商出厂时，如果没有缺陷或系统故障，则认为该产品的质量指标均已达到要求。随后，日益复杂的设备和系统，以及因为失效而迅速增加维修成本，迫使人们会最先考虑产品的可靠性、维修性、可用性以及安全性。如今人们期望的是，对于复杂的设备和系统，不仅在刚刚投入使用时没有缺点和系统故障，在规定的时间间隔内完成需要的功能，而且在发生危急或灾难性故障的情况下能有一个安全的行为。在实际应用中，究竟是否能达到这样的期望，需要通过一些测试才能确定答案。所以，对电子仪器而言，在仪器设计阶段，在设计功能实现的同时，也必须对仪器的可靠性加以考虑，因为在这个阶段提高其可靠性需要的费用最少，效果最好。这样设计出来的电子仪器，可以在保证其功能实现的同时还具有合理的可靠性。可靠性高的仪器寿命长，不容易出故障，即使出了故障也很容易找到出现故障的环节，经过短时问的维修之后，能够重新投入使用。可靠性高的仪器在使用过程中对用户和生产厂家而言都是有益的：用户免去了在使用中不得不中断使用而去维修仪器的不便，节省了时间、精力和财力；生产厂家虽然在生产过程中会增加成本，但在投入市场后，在同类仪器之间激烈的竞争中会独具优势，可以增加竞争力；同时，可靠性高的仪器意味着维修费用大大降低，即会减少仪器后期的使用成本。只要生产厂家权衡好两者的关系，必定会从中受益。因此，在现代生活中，仪器的可靠性设计越来越重要。
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